「誤差数㎚実現…物材機構、電顕試料の厚みを制御する新手法」　物質・材料研究機構（ＮＩＭＳ）の埋橋淳主幹エンジニアと大久保忠勝グループリーダーらは、電子顕微鏡の試料の厚みを制御する手法を開発した。数ナノメートル（ナノは１０億分の１）以下の誤差で狙った厚みに調製できた。電子顕微鏡は厚みによって見え方が変わってしまう。複数の研究室で厚みをそろえると結果を比較できる。人工知能（ＡＩ）活用やデータ共有を支える基盤技術になる。